儀器介紹：

瞬(shun)態平面熱(re)源技術（TPS）開發的(de)導熱(re)系(xi)數(shu)測(ce)試儀，可用于(yu)各種不(bu)(bu)同類型、不(bu)(bu)同形(xing)態材料的(de)熱(re)傳導性能的(de)測(ce)試。

儀器(qi)特點：

1.測試范圍廣泛，測試性能穩定，在(zai)國內同類儀(yi)器中，處于優先水平。

2.直接測量(liang)，測試(shi)時間5-160s左右可設置，能快速準確的(de)測出導熱系數，節約了(le)大量(liang)的(de)時間。

3.不會和靜態法(fa)一樣受到接觸熱阻的影響。

4.無(wu)須特別的(de)樣品制備(bei)，對樣品形狀(zhuang)并無(wu)特殊要求(qiu)，塊狀(zhuang)固體只需相對平(ping)滑的(de)樣品表面并且滿(man)足長寬至少(shao)為探頭直(zhi)徑(jing)的(de)兩倍即(ji)可。

5.對樣(yang)品實(shi)行無損檢測，意味著樣(yang)品可以重復使用。

6.探頭采用雙(shuang)螺旋線(xian)的(de)結構進(jin)行(xing)設計，結合專屬數學模型(xing)，利用核(he)心算(suan)法對探頭上采集的(de)數據進(jin)行(xing)分析計算(suan)。

7.樣品臺的結構設計巧妙，操作(zuo)方便，適(shi)合放(fang)置不(bu)同厚度的樣品，同時(shi)簡(jian)潔美(mei)觀。

8.探頭上的(de)數據(ju)采集使用(yong)了進口的(de)數據(ju)采集芯片(pian)，該芯片(pian)的(de)高分辨率(lv)，能使測試結果(guo)更加準確可靠。

9.主機的控(kong)制系統(tong)使用了(le)ARM微(wei)處(chu)(chu)理(li)器(qi)，運算(suan)速度(du)比(bi)傳統(tong)的微(wei)處(chu)(chu)理(li)器(qi)快，提高了(le)系統(tong)的分析處(chu)(chu)理(li)能(neng)力，計算(suan)結果更加(jia)準確。

10.儀器可用于塊(kuai)狀(zhuang)固(gu)(gu)(gu)體(ti)、膏狀(zhuang)固(gu)(gu)(gu)體(ti)、顆(ke)粒狀(zhuang)固(gu)(gu)(gu)體(ti)、膠體(ti)、液體(ti)、粉末、涂層、薄膜、保溫材料等熱物性參數(shu)的測(ce)定。

儀器技(ji)術參數：

DZDR-S 快速導熱儀的測試方法

DZDR-S 快速導熱儀局部圖片展示